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手持式X射线荧光光谱仪

产品信息:
1、可在大气中现场快速无损的分析检测并鉴别,并可根据用户应用需要进行扩展,测量元素可达47种。
2、设备体积小,重量轻,分析精度高。
3、配有最先进的Peltier电制冷硅漂移SDD计数器, 数据处理能力10倍于PIN二极管检测器,可有效防止计数溢出造成的漏计。
4、采用复合滤光片设计, 显著减少了由于更换滤波片造成的分析时间的浪费。
5、配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。
6、采用人机功效学原理,一体化的工业级电脑可以完成多种操作
7、具备Interlock安全互锁和硬体快门。
8、仪器在Windows CE操作系统上建立斯派克的分析软件,操作极为方便。
9、仪器具有多种校正模式,在定量分析中可充分应用,以取得最佳的分析结果。
10、可视CCD摄像头定位系统,可实时记录所测样品的位置的图像并和测试数据一同保存。

手持式X射线荧光光谱仪

产品信息:
1、可在大气中现场快速无损的(2秒显示牌号和实验室级的分析结果/额外增加10秒可分析Mg,Al,Si,P,S)分析检测并鉴别出各种不锈钢,低合金钢,有色合金,金属等材质中的常量和微量元素含量,检出限可达几个ppm,并可根据用户应用需要进行扩展,以满足粉末,矿石,土壤等不同样品更多的分析测试要求,测量元素可达47种。
2、设备体积小,重量轻,分析精度高,中英文操作系统、集一体化程度高,可靠性极佳,集多种应用于一体,特别适用于高精度材料成分快速检测。
3、配有最先进的Peltier电制冷硅漂移SDD(Sillicon Draft detector)计数器, 数据处理能力10倍于PIN二极管检测器,可有效防止计数溢出造成的漏计。SDD技术显著减少分析所占用的X射线开启时间,在同样的仪器使用条件下可以测试更多的样品,有效提升工作效率。
4、采用复合滤光片 (多金属复合材料) 设计, 显著减少了由于更换滤波片造成的分析时间的浪费(最高缩短5倍时间),采用不同的激发条件保证对元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激发效果,减少了操作时间,大幅度降低X射线对操作人员造成伤害的可能性, 是真正意义上的安全的快速无损现场检测设备。
5、配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可对任何完全未知的样品进行‘解剖’分析。与其他同类仪器相比,FP更为接近(符合)实际,在此程序中采用了数千种国际标准样品,实测结果并予以固化。
6、采用人机功效学原理,一体化的工业级电脑可以完成诸如:仪器控制,测试操作,自动识别,背底扣减,谱峰重叠,堆砌峰 / 逃逸峰校正,定量计算等操作功能。仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。标准USB接口更方便数据传出。
7、具备Interlock安全互锁和硬体快门。如未检测到测试样品,快门互锁装置会于200毫秒内自动关闭快门并同时切断X射线,连锁保护功能最大程度保护操作人员的人身安全;快门即为目前所有品牌中唯一内置的ICAL自校准样品,自动校准仪器,自动修正偏差,无需外置自校准标样,保证分析结果的准确性。
8、仪器在Windows CE操作系统上建立斯派克的分析软件,操作极为方便。采用人机功效学原理,谱图汇编,自动识别,背底扣减,谱峰重叠,堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。
9、仪器具有多种校正模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,以取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、卢卡斯经验系数法、质量吸收系数法、基体匹配校正等等。
10、可视CCD摄像头定位系统,可实时记录所测样品的位置的图像并和测试数据一同保存。

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